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第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測(cè)試 功率器件測(cè)試系統(tǒng)
分類
 
KGD（Known Good Die）測(cè)試解決方案

支持高溫常溫測(cè)試：DC+SW+UIL+RG&QA； 提供測(cè)試機(jī)+轉(zhuǎn)塔/平移分選機(jī)搭配方案； 短路保護(hù)+自研探針



針卡保護(hù)

兩顆並測(cè)

高溫常溫

數(shù)據(jù)合併

型號(hào) KGD測(cè)試解決方案
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 低雜散解決方案
短路保護(hù)：短路關(guān)斷時(shí)間低於300nS
定制socket，適配不同Handler方案
特殊探針資料，短路測(cè)試不燒熔不沾異物
支持工位合併
支持測(cè)試機(jī)+轉(zhuǎn)塔方案，測(cè)試效率高



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