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第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁(yè) 產(chǎn)品中心 半導(dǎo)體測(cè)試 功率器件測(cè)試系統(tǒng)
分類(lèi)
KGD(Known Good Die)測(cè)試解決方案

支持高溫常溫測(cè)試:DC+SW+UIL+RG&QA;提供測(cè)試機(jī)+轉(zhuǎn)塔/平移分選機(jī)搭配方案;短路保護(hù)+自研探針



針卡保護(hù)

兩顆并測(cè)

高溫常溫

數(shù)據(jù)合并

型號(hào) KGD測(cè)試解決方案
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

低雜散解決方案

短路保護(hù):短路關(guān)斷時(shí)間低于300nS

定制socket,適配不同Handler方案

特殊探針材料,短路測(cè)試不燒熔不沾異物

支持工位合并

支持測(cè)試機(jī)+轉(zhuǎn)塔方案,測(cè)試效率高