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第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
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分類
 
QT-8600RF 混合訊號(hào)射頻測(cè)試系統(tǒng)

RF6G/12G 測(cè)試模組，應(yīng)用於高功率輸出、諧波測(cè)試、開關(guān)時(shí)間、插損、隔離、S11、Ron、Coff、同端迴路、IP3、雜散測(cè)試



懸浮電源

多Site並行

多通道高精度

支援多種擴(kuò)展

型號(hào) QT-8600RF 混合訊號(hào)射頻測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) RF6G 測(cè)試模組，應(yīng)用於高功率輸出、諧波測(cè)試、開關(guān)時(shí)間、插損、隔離、S11、Ron、Coff、同端迴路、IP3、雜散測(cè)試
主要特點(diǎn) ? 6GHz/12GHz射頻量測(cè)，數(shù)位滿足MIPI 100MHz以下測(cè)試
? 支持向量標(biāo)量測(cè)試， DC、 數(shù)位、RF一體化機(jī)臺(tái)
? 功率高達(dá)9GHz&35dBm，支持2站RF並行測(cè)試，多站複合測(cè)試
? 自研算灋通信，UPH最高達(dá)12Kper hour
? 為RF開關(guān)、 LNA、TUNER、 濾波器等器件提供高效的測(cè)試平臺(tái)




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